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                  Hanwa HCE-5000

                  ? 獨立的測試系統,便攜式空間占用小,性價比高。
                  ? 搭配嵌入式操作屏幕,無需外置PC或Curve tracer可獨立完成HBM,MM和漏電測試
                  ? 適應于功率半導體器件及少管腳IC

                  特點與優勢

                  • 特點

                     

                     

                    • 易于使用的觸摸屏界面

                     

                      設置可以在沒有PC的情況下進行調整

                     

                     

                    • 符合多種標準

                     

                      滿足JEDEC/ESDA/AEC/JEITA對HBM/MM的要求

                     

                     

                    • 泄漏與曲線追蹤

                     

                      測試前后

                        方法1:變化百分比

                        方法2:絕對值

                     

                     

                     

                    • HBM快速/慢速單元(可選)

                     

                      HBM波形上升時間變化的兩種單位。

                      快速上升時間=2-3ns,慢速上升時間=8-10ns(標準=5-7ns)

                     

                  •  

                     

                                                                                        

                     

                     

                     

                  •  

                     

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