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                  產品中心

                  霍爾效應測試系統HEMS

                  適用范圍: GaAS based materials (HEMSTs,pHEMTs,HBTs,FETs,MESFETs), lnP, InAs, GaN and AIN, Si, Ge, SiC, HgCdTd, ZnO, SiGe, MnGaAS, ZnO, 紅外應用(LED, laser diodes, detectors), 金屬氧化物, 有機材料, 無機材料, 鐵氧體等。

                  特點與優勢

                  • 主要技術指標

                     

                    測量包括:

                    •   遷移率測試

                    •   DC HEMS: 10^6cm2/Vs to 10cm2/Vs

                    •   AC HEMS: 10cm2/Vs to 0.1cm2/Vs

                    •   載流子濃度測試

                    •   電阻率測試

                    •   電阻測量

                    •   低電阻范圍 1uohm to 1Mohm

                    •   寬電阻范圍 1uohm to 100Gohm

                    •   高電阻范圍 1ohm to 100Gohm

                    •   范德堡法測試范圍

                    •   霍爾巴法測試

                     

                    磁極帽:

                    •   可更換極帽

                    •   標準25mm

                    •   在0-130mm間距連續可調

                    •   更大極帽直徑可選,50mm,75mm

                     

                    電磁鐵:

                    •   ±2.5T@100mmgapwith25mmpoleface

                    •   ±35V, ±70A電源

                    •   磁場>±IT@25mmpolegap

                    •   線圈電阻: 0.5 ? (20°C)

                    •   水冷

                  •  

                     

                     

                    溫度選項:

                    •   低溫 3K-300K

                    •   高溫300K-1273K

                     

                    納米磁學高斯計:

                    •   磁場掃描采用集成高斯計

                    •   磁場校準采用霍爾探頭

                    •   高靈敏度的磁場測量

                    •   所有參數可通過軟件控制

                     

                     

                    樣品架:

                    •   4,6 or8范德堡或霍爾巴測試設計

                    •   易于樣品安裝與彈簧連接

                    •   5mmx5mm樣品大小(提供更大選件)

                    •   多個樣品安裝

                     

                     

                    控制器和軟件:

                    •   使用我們軟件可逐層的進行遷移率分析

                    •   基于C# 的全自動軟件分析

                    •   非常寬的溫度測試范圍,3-1,300K

                    •   采用高斯計進行磁場的控制

                    •   非常容易的進行范德堡霍爾巴方法樣品測試

                    •   提供軟件終生升級

                     
                  •  

                     

                     

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