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                  Keithely 4200A-SCS

                  4200A-SCS 是一種可以量身定制、全面集成的半導體參數分析儀,可以同步查看電流電壓 (I-V)、電容電壓 (C-V) 和超快速脈沖式 I-V 特性。作為性能最高的參數分析儀,4200A-SCS加快了半導體、材料和工藝開發速度。

                  特點與優勢

                  • 主要性能指標

                    I-V 源測量單元 (SMU)

                    ● ± 210 V/100 mA 或 ± 210 V/1 A 模塊

                    ● 100 fA 測量分辨率

                    ● 選配前端放大器提供了 0.1 fA 測量分辨率

                    ● 10 mHz - 10 Hz 超低頻率電容測量

                    ● 四象限操作

                    ● 2 線或 4 線連接

                    C-V 多頻率電容單元 (CVU)

                    ● AC 阻抗測量 (C-V, C-f, C-t)

                    ● 1 kHz - 10 MHz 頻率范圍

                    ● ± 30 V (60V差分)內置 DC 偏置源,可以擴展到 ± 210 V(420 V 差分 )

                    ● 選配 CVIV 多功能開關,在 I-V 測量和 C-V 測量之間簡便切換

                    脈沖式 I-V 超快速脈沖測量單元 (PMU)

                    ● 兩個獨立的或同步的高速脈沖 I-V 源和測量通道

                    ● 200 MSa/s,5 ns 采樣率

                    ● ±40 V (80 V p-p),±800 mA

                    ● 瞬態波形捕獲模式

                    ● 任意波形發生器Segment ARB®模式,支持多電平脈沖波形,10ns可編程分辨率

                    高壓脈沖發生器單元 (PGU)

                    ● 兩個高速脈沖電壓源通道

                    ● ±40 V (80 V p-p),± 800 mA

                    ● 任意波形發生器Segment ARB®模式,支持多電平脈沖波形,10ns可編程分辨率

                    I-V/C-V 多開關模塊 (CVIV)

                    ● 在 I-V 測量和 C-V 測量之間簡便切換,無需重新布線或 抬起探針

                    ● 把 C-V 測量移動到任意端子,無需重新布線或抬起探針

                    遠程前端放大器 / 開關模塊 (RPM)

                    ● 在 I-V 測量、C-V 測量和超快速脈沖 I-V 測量之間自動 切換

                    ● 把 4225-PMU 的電流靈敏度擴展到數十皮安

                    ● 降低電纜電容效應

                  • 為材料、半導體器件和工藝開發提供最優秀的參數分析儀

                     

                     

                    使用強大的 Clarius 軟件,可以更加快速的完成 I-V, C-V 和脈沖 I-V 測試,結果清晰明了

                     

                     

                     

                  • 4200A-SCS 儀器和模塊

                     

                  • 提取或測量參數列表實例

                     

                     

                  • Clarius Software

                     

                    實時結果和參數

                    自動數據顯示、算法分析和實時參數提取功能,加快獲得所 需信息的速度。您不必擔心數據丟失,因為所有歷史數據都會保存下來。全新Clarius Software用戶界面,您可以把對科研的理解提升到全新水平。4200A-SCS包括 Clarius+軟件包,可以執行幾乎任何類型的 I-V、C-V 和脈沖式 I-V特性分析測試。Clarius Software用戶界面提供了觸滑或點擊控制功能,為現無需示波器檢驗脈沖測量代半導體、材料和工藝特性分析提供高級測試定義、參數分析、圖表繪制和自動化功能。

                     

                    主要特點

                    ● 隨時可以投入使用、可以修改的應用測試、項目和器件,縮短測試開發時間

                    ● 業內第一臺內置測量視頻的儀器,測試視頻由全球應用工程師提供,分為4種語言,縮短學習周期

                    ● pin to pad接觸檢查,確保測量可靠

                    ● 多種測量功能

                    ● 數據顯示、分析和代數運算功能

                     

                    專家視頻,降低特性分析復雜度

                    觀看吉時利全球應用工程師制作的內置視頻,迅速掌握應用,縮短學習周期。數小時的專家測量專業幫助,在發生意想不到的結果或對怎樣設置測試存在疑問時,將為您提供指引。Clarius Software短專家視頻支持四種語言(英語、中文、日語和韓語),可以迅速讓你洞察先機。

                     

                    大量隨時可以使用的應用測試可供選擇

                    通過Clarius庫中裝備的450多項應用測試,您可以選擇或修改預先定義的應用測試,加快特性分析速度,或從一開始簡便地創建自定義測試。只需三步,Clarius Software就可以引導新用戶像專家一樣完成參數分析。

                     

                    實時結果和參數

                    自動數據顯示、算法分析和實時參數提取功能,加快獲得所需信息的速度。您不必擔心數據丟失,因為所有歷史數據都會保存下來。

                     

                    無需示波器檢驗脈沖測量

                    脈沖定時預覽模式可以簡便地查看脈沖定時參數,確認脈沖式I-V測試按希望的方式執行。使用瞬態I-V或波形捕獲模式,進行基于時間的電流或電壓測量,而無需使用外部示波器。

                  • 典型應用

                     

                     

                    MOSFET, BJT 晶體管

                    材料特性分析

                    非易失性存儲設備

                    電阻率系數和霍爾效應測量

                    NBTI/PBTI

                    III-V 族器件

                    失效分析

                    納米器件

                    二極管和 pn 聯結

                    太陽能電池

                    傳感器

                    MEMS器件

                    電化學

                    LED和OLED

                  •  

                     

                     

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