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                  解決方案

                  Delta-L損耗測試

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                          隨著高速互聯鏈路信號傳輸速率的不斷提高,作為器件和信號傳輸的載體,印制電路板(PCB)的信號完整性對通信系統的電氣性能有著至關重要的影響。尤其是10G和25G+產品的大規模商用,對PCB傳輸線插入損耗(Insertion Loss)指標的監控是高速PCB研發和量產過程中管控的重要手段,不同高速產品,客戶對信號損耗會有不同的要求,以服務器產品為例,Intel基于不同的服務器平臺,對PCB帶狀線和微帶線的損耗有著不同的損耗控制要求。

                          Delta L法是Intel提出,目前已大量應用于服務器產品量產測試的方法,是SET2DIL方法的替代。Delta L法設計兩條不同長度的傳輸線(如圖6所示),傳輸線通過過孔(Via)、焊盤(Pad)等連接至測試探針或SMA,采用VNA測試長短線的插損值,其中,結構A的插損值ILA = ILX1 + ILVias,結構B的插損值ILB = ILX2 + ILVias,在獲取長短線的插損后,先進行擬合運算,消除多重反射的影響,再直接做差值操作,從而獲得單位長度傳輸線的插損值:IL = (ILA-ILB) / (X1-X2)。為弱化測試系統的的不匹配效應及多重反射對插損結果的影響,Delta L法對長度線的長度有嚴格要求,一般地,長短線差異需大于7.5 cm,以使多重反射的影響最小化。

                          英鉑科學儀器提供Delta-L3.0,Delta-L4.0先進intel測試算法以及測試夾具精確的測試高達40GHz的插入損耗(IL)值,提供Pass/Fail判斷,通過軟件連接矢量網絡分析儀(VNA),數據批量測試能力強,支持SMA接頭以及專用探頭硬件連接方式。

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