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                  新聞中心banner
                  02-10 2021
                  優勢電流成像· 快速圖像采集(每幀約5秒)· 不需要更容易控制的反饋· 原位應用,掃描電鏡可以用來確定投資回報率· 與標準鎢探針頭配 ...
                  2021-02-10
                  01-30 2021
                  納米探針臺納米探測面臨的挑戰· 定位精度· 安全(軟)著陸接觸· 具有適當尖端半徑的可靠探針頭· 清潔環境:試驗箱、樣品、探針頭· ...
                  2021-01-30
                  01-30 2021
                  · 可用于高達100mm、150mm和200mm的晶圓測試· 可配置4或6個探針臂。· 還可以選擇探卡進行測試· 顯微鏡選擇包括7:1,12 5:1和16:1數 ...
                  2021-01-30
                  01-30 2021
                  · 磁場可以以三種模式被任意控制:固定的值, 線性掃描, 或者用戶可以自定義。· Wafer size:10mm,可升級到200mm· 磁場:方向任意 ...
                  2021-01-30
                  01-30 2021
                  · 高性價比, 穩定,可靠,使用方便· 溫度范圍 10K -400K· 4 2K- 480K (可選)· 閉循環制冷,無需消耗液氦· 樣品座尺寸: 1英 ...
                  2021-01-30
                  01-24 2021
                  TS150&TS200&TS300TS150&TS200&TS300應用于測試半導體晶圓級、器件類電學特性,具備可以快速拖動樣品臺,更換樣品功能,并且有著獨特Platen ...
                  2021-01-24
                  01-24 2021
                  TS300-SE Probe SystemMPI TS300-ShielDEnvironment&trade;(TS300-SE)12英寸探針臺旨在對300mm晶圓及以下微小器件提供高級EMI RFI ...
                  2021-01-24
                  01-24 2021
                  TS200-SE Probe SystemMPI TS200-ShielDEnvironment™(TS200-SE)8英寸探針臺可提供高級EMI RFI 不透光屏蔽,超低噪聲,低泄 ...
                  2021-01-24
                  01-23 2021
                  TS2000-HP Probe SystemMPI的TS2000-HP半自動化探針臺測試系統可提供8英寸及以下晶圓器件的高功率測量,先進的ShielDEnvironment™ ...
                  2021-01-23
                  01-23 2021
                  TS2000-DP Probe SystemTS2000-DP是MPI提供一套多功能且經濟高效的8寸半自動高功率測試探針臺,可在20&deg;C至300&deg;C的溫度范圍內進行 ...
                  2021-01-23
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